Simulatortest

Shenzhen Shenchuang Hi-tech Electronics Co., Ltd (SCitec) är ett högteknologiskt företag som specialiserat sig på produktion och försäljning av telefontillbehör. Våra huvudprodukter inkluderar reseladdare, billaddare, USB-kablar, powerbanks och andra digitala produkter. Alla produkter är säkra och pålitliga, med unika stilar. produkter passerar certifikat som CE, FCC, ROHS, UL, PSE, C-Tick, etc. , Om du är intresserad av kan du kontakta ceo@schitec.com direkt.

Fortsätt ladda säkert med SChitec

Simulatortest

Testa med OP AMP. Konceptet med "Virtual Earth" från punkt "a" är som följer:

Ix=Iref

∴Rx {{0}} Vs/ V0*Rref

Vs och rref är excitationssignalkälla respektive instrumentberäkningsresistans. Om V0 mäts kan RX beräknas.

Om Rx som ska mätas är kapacitans och induktans, så är vs AC-signalkällan, Rx impedansform, och C eller l kan också beräknas.

1.2 bevakning

Ovanstående testmetod är för oberoende enheter, men enheterna i den faktiska kretsen är anslutna och interagerar med varandra, så att IX 笽 ref måste isoleras under testet. Isolering är den grundläggande tekniken för onlinetestning.

I den övre kretsen, på grund av anslutningsshunten för R1 och R2, är ekvationen för IX 笽 ref, RX=vs / V0 * rref inte giltig. I testet, så länge som G och F är på samma potential, flyter ingen ström genom R2, och det finns fortfarande ekvationen för IX=Iref, RX förblir oförändrad. När G-punkten är jordad kan isolering realiseras eftersom f-punkten är virtuellt jordad och potentialen för två punkter är lika. I praktiken är G och F ekvipotential genom en isolerad operationsförstärkare. IKT-testare kan tillhandahålla många isoleringspunkter för att eliminera påverkan av perifer krets på testet.

1.2 IC-test

För Digital IC, använd vektortest. Vektortest liknar mätningen av sanningstabellen, som exciterar ingångsvektorn, mäter utgångsvektorn och bedömer enhetens kvalitet genom det faktiska logiska funktionstestet.

Till exempel: Test av NAND-grind

För test av analog IC kan motsvarande utsignal mätas enligt den faktiska funktionsexciteringsspänningen och strömmen för IC, vilket betraktas som funktionsblocktestet.

Icke vektortest

Med utvecklingen av modern tillverkningsteknik och användningen av VLSI tar det ofta mycket tid att skriva vektortestprogrammet för enheter, till exempel testprogrammet 80386, som tar nästan ett halvt år för en skicklig programmerare. Med den omfattande tillämpningen av SMT-enheter blir felfenomenet med öppen krets av enhetsstift mer framträdande. Av denna anledning har Teradyne lanserat den icke-vektortestande teknologin från Xpress, som introduceras av Multiscan; GenRad.

2.1 delta scan analog junction testteknik

Deltascan använder ESD-skyddet eller parasitdioder som nästan alla stiften på digitala enheter och de flesta stiften på blandade signalenheter för att testa likströmmen för de oberoende stiftparen i de testade enheterna. När strömmen till ett kort stängs av visas motsvarande krets för två stift på enheten i bilden nedan.

1. lägg till en negativ spänning till jord på stift a, och strömmen ia flyter genom framåtförspänningsdioden på stift a. Mät strömmen ia genom stift a.

2 bibehålla spänningen för stift a, lägga till en högre negativ spänning till stift B, och strömmen IB flyter genom framåtförspänningsdioden på stift B. Strömmen IA reduceras på grund av strömdelningen inom det gemensamma substratresistansen från stift a och stift B till jord.

3 mät strömmen ia genom stift a igen. Om ia inte ändras (delta) när spänningen läggs på stift B måste det finnas ett anslutningsproblem.

Deltascan-mjukvaran syntetiserar testresultaten som erhålls från många möjliga stiftpar på enheten, för att erhålla korrekt feldiagnos. Signalstift, strömförsörjning och jordstift samt substrat deltar alla i deltascan-testet, vilket innebär att deltascan förutom stiftfrånkoppling även kan upptäcka tillverkningsfel som att enheten saknas, omvänd insättning och ledningsbortkoppling.

GenRad-typtester kallas junction Xpress. Den använder också diodegenskaperna i IC, men testet realiseras genom att mäta diodens spektrumegenskaper (andra övertonen).

Deltascan-tekniken är den första tekniken utan extra fixturhårdvara.

2.2 kapacitanskopplingstest av framescan

Framescan använder kapacitanskoppling för att detektera bortkoppling av stift. Varje enhet har en kapacitiv sond. När ett stift exciterar signalen, fångar den kapacitiva sonden upp signalen. Som visas i figuren:

1. Flerkanalsbrytarkortet på fixturen väljer den kapacitiva sonden på en enhet.

2 sänder det analoga testkortet (ATB) i testaren AC-signalen till varje stift i tur och ordning.

3. Den kapacitiva sonden samlar in och buffrar AC-signalen på stiftet som testas.

4 ATB mäter AC-signalen som tas upp av den kapacitiva sonden. Om ett stift ansluts till kretskortet korrekt kommer signalen att mätas; om stiftet är bortkopplat, kommer det inte att finnas någon signal.

GenRad-liknande teknik kallas öppen Xpress. Principen är liknande.

Denna tekniska fixtur behöver sensorer och annan hårdvara, och testkostnaden är något högre.